main product photo

Спектрофотометр Efi ES-2000 с Color Profiler Suite

В наличии
Код товара
15321519361
19 485,00 грн.
Доставка
Отправим:
Стоимость:
Нова пошта
2-3 дня
с момента оплаты
Тариф перевозчика
Курьер Нова пошта
2-4 дня
с момента оплаты
Тариф перевозчика
Оплата

Картой онлайн,
Реквизиты IBAN,
Безналичный расчет (без НДС),
Оплата частями (для клиентов Монобанк),
На карту

Гарантия
официальная гарантия от производителя 36 месяцев
Возврат/ Обмен в течении 14 дней
спектрофотометр Efi ES-2000 с Color Profiler Suite

устройства новые, никогда не использовались, но имеют заводской недостаток покрытия-верхний прорезиненный слой прилипает, и его нужно снять химией. После этой процедуры на устройстве остаются следы от снятия покрытия. Пожалуйста, ознакомьтесь с фотографиями, чтобы избежать недоразумений.

обозначения EO2ES2000 + EFI; 7061221

спектрофотометр-это портативное измерительное устройство, которое каждый раз помогает достичь прогнозируемого цвета. Обеспечивает быстрые и точные результаты. Преимущества:

  • быстрая, точная калибровка цвета
  • точные дополнительные цвета и точные измерения точки белого
  • беспроблемное чтение цветов
  • спектрофотометр-это промышленный стандарт для измерения цвета и профилирования высочайшего качества.

спектральный двигатель • технология ES-2000 со встроенной проверкой длины волны • спектральный анализатор: голографическая дифракционная сетка с диодным чипом 128 пикселей • спектральный диапазон: 380-730 Нм • физический интервал выборки: 3,5 нм • оптическое разрешение: 10 нм • спектральная отчетность: 380-730 Нм с шагом 10 нм • частота измерения в режиме сканирования: 200 измерений в секунду оптика • геометрия измерения: кольцевое освещение 45°/0° оптика, ISO 13655:2009 • измерительное отверстие: диаметр 0,18 дюйма (4,5 мм). (эффективная измерительная апертура при сканировании зависит от размера патча и скорости измерения) • размер пятна освещения: 0,14” (3,5 мм) • источник света: заполненный газом вольфрам (осветитель типа А) и УФ – диод измерение отражения • формат данных: спектральная отражательная способность (безразмерная) • условия измерения: – УФ В том числе – измерение ISO 13655:2009 условие M0 - D50 – ISO 13655:2009 условие измерения M1 — фильтр без УФ-излучения-измерение, соответствующее стандарту ISO 13655:2009 условие M2 • калибровка: инструкция на внешнем керамическом белом шаблоне • фон измерения: белый, ISO 13655:2009; для измерения на резервной пластине • максимальная толщина носителя: 0,12” (3 мм) на резервной пластине • минимальный размер исправления в режиме сканирования: 0,28” x 0,39” (7 x 10 мм) (ширина x высота) с линейкой датчика 0,39” x 0,39” (10 x 10 мм) (ширина X) без сенсорной линейки • совместимость между инструментами: в среднем 0,4 ∆e94*, 1,0 ∆e94* макс. (отклонение от производства X-Rite стандартно при температуре 73,4 ºF (23ºC) на 12 BCRA пластины (D50, 2º)) • кратковременная повторяемость: 0,1 ∆E94 * на белом (D50, 2°, среднее значение 10 измерений каждые 3 секунды на белом)

фотографии устройств после очистки